高低溫試驗(yàn)箱的靜電引發(fā)的危害

一、高低溫試驗(yàn)箱靜電放電(ESD)形成的風(fēng)險(xiǎn)：

　　1、引起高低溫試驗(yàn)箱的問(wèn)題或者誤動(dòng)作，形成電磁干擾;

　　2、擊穿集成電路和精細(xì)電子元器件，或促使元器件老化增加產(chǎn)品故障率;

　　3、高壓靜電放電形成電擊，危及人身安全;

　　4、在易燃易爆品或粉塵、油污密集的場(chǎng)合極其容易引起爆炸。 

　　二、靜電引起(ESA)引起的風(fēng)險(xiǎn)：

　　1、電子工業(yè)：吸附灰塵，造成集成電路和半導(dǎo)體元器件覆蓋塵埃大大降低產(chǎn)品運(yùn)行效率;

　　2、膠片和塑料工業(yè)：容易使膠片或薄膜收卷不齊，膠片、CD塑盤(pán)沾染灰塵影響質(zhì)量;

　　3、造紙印刷工業(yè)：紙張收卷不齊，套印禁絕，吸污嚴(yán)重，甚至紙張黏結(jié)，影響出產(chǎn);

　　4、紡織工業(yè)：形成根絲飄動(dòng)、纏花斷頭、紗線糾結(jié)等風(fēng)險(xiǎn)。

　　上述問(wèn)題就是關(guān)于靜電所引發(fā)的相關(guān)危害的描述，當(dāng)然在高低溫試驗(yàn)箱大型制造廠家都會(huì)有相關(guān)的防護(hù)措施杜絕靜電額產(chǎn)生